职位详情
工作职责
1. 负责芯片量产阶段的FT测试方案设计与验证,涵盖测试向量开发、测试流程优化及良率提升策略的制定。
2. 主导ATE测试设备(如Teradyne、Advantest)的程序开发与调试,确保测试覆盖范围和效率满足量产要求。
3. 对量产过程中的测试数据进行分析,定位芯片失效原因并提出改进措施,推动测试良率持续改善。
4. 与芯片设计、制造团队协同配合,解决测试环节中的技术问题,保障量产交付进度。
任职要求
1. 本科及以上学历,理工科相关专业,具有一年以上相关工作经验。
2. 拥有2年以上芯片FT测试或量产测试经验,熟悉芯片测试基本原理及流程。
3. 熟练操作至少一种ATE设备(如J750、V93000),具备独立完成测试程序开发的能力。
4. 掌握Verilog/VHDL语言,有芯片测试向量编写或DFT(可测试性设计)经验者优先考虑。
5. 具备较强的数据分析能力,能够通过测试结果识别芯片失效模式并提出有效优化建议。
岗位福利:双休,入职即办理五险一金
工作时间:08:30-18:00
1. 负责芯片量产阶段的FT测试方案设计与验证,涵盖测试向量开发、测试流程优化及良率提升策略的制定。
2. 主导ATE测试设备(如Teradyne、Advantest)的程序开发与调试,确保测试覆盖范围和效率满足量产要求。
3. 对量产过程中的测试数据进行分析,定位芯片失效原因并提出改进措施,推动测试良率持续改善。
4. 与芯片设计、制造团队协同配合,解决测试环节中的技术问题,保障量产交付进度。
任职要求
1. 本科及以上学历,理工科相关专业,具有一年以上相关工作经验。
2. 拥有2年以上芯片FT测试或量产测试经验,熟悉芯片测试基本原理及流程。
3. 熟练操作至少一种ATE设备(如J750、V93000),具备独立完成测试程序开发的能力。
4. 掌握Verilog/VHDL语言,有芯片测试向量编写或DFT(可测试性设计)经验者优先考虑。
5. 具备较强的数据分析能力,能够通过测试结果识别芯片失效模式并提出有效优化建议。
岗位福利:双休,入职即办理五险一金
工作时间:08:30-18:00
2026-05-20 12:22
IP属地:广东东莞
职位福利
本科1-3年自动化测试FT测试方案设计ATE设备程序开发芯片良率提升性能测试功能测试接口芯片通信芯片电源芯片

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